本發(fā)明公開了一種eMMC質(zhì)量檢測修復(fù)方法、裝置及存儲介質(zhì)，其中該方法包括：讀取eMMC芯片的協(xié)議版本信息及生產(chǎn)日期，非失真寄存器及只讀信息，獲取所述eMMC芯片的第一質(zhì)量狀態(tài)；讀取所述eMMC芯片的數(shù)據(jù)存儲區(qū)，判斷是否全為默認(rèn)值，提取分區(qū)特征，獲取所述eMMC芯片的第二質(zhì)量狀態(tài)；對所述eMMC芯片進(jìn)行讀取擦除性能檢測，獲取所述eMMC芯片的第三質(zhì)量狀態(tài)；根據(jù)第一質(zhì)量狀態(tài)、第二質(zhì)量狀態(tài)及第三質(zhì)量狀態(tài)生成所述eMMC芯片的質(zhì)量評估結(jié)果；根據(jù)所述質(zhì)量評估結(jié)果，對所述非失真寄存器開啟的功能進(jìn)行關(guān)閉，通過擦除命令修復(fù)數(shù)據(jù)存儲區(qū)，并對讀寫性能進(jìn)行修復(fù)。簡要描述技術(shù)效果。本發(fā)明通過多種方式檢測，檢測修復(fù)的覆蓋面廣，準(zhǔn)確率高，貼近用戶實(shí)際使用需求。