本發(fā)明公開了一種磁開關(guān)綜合測(cè)試儀及其測(cè)試方法,包括控制模塊、顯示模塊、性能測(cè)試模塊和樣品檢測(cè)模塊,所述顯示模塊的輸入端、性能測(cè)試模塊的輸入端和所述控制模塊電連接,所述樣品檢測(cè)模塊的輸入端和所述功性能測(cè)試模塊的輸出端電連接,所述樣品檢測(cè)模塊的輸出端和所述控制模塊電連接。所述磁開關(guān)綜合測(cè)試儀用于磁開關(guān)的性能檢測(cè),可同時(shí)對(duì)多個(gè)磁開關(guān)進(jìn)行檢測(cè),檢測(cè)速度快,檢測(cè)時(shí)耗電功率僅為800W,節(jié)能環(huán)保,設(shè)備內(nèi)部硬件不需調(diào)整就可實(shí)現(xiàn)廣范兼容,其穩(wěn)定性,可靠性高。
聲明:
“一種磁開關(guān)綜合測(cè)試儀及其測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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