本發(fā)明公開了OIS技術(shù)領(lǐng)域的一種OIS測試設(shè)備;包括測試轉(zhuǎn)盤、固定測試架、上料架和上料盤,固定測試架和上料架呈水平對稱設(shè)置于測試轉(zhuǎn)盤兩側(cè),測試轉(zhuǎn)盤、固定測試架和上料架的底部共同設(shè)置底板,測試轉(zhuǎn)盤包括轉(zhuǎn)盤,轉(zhuǎn)盤上對稱設(shè)置有四個固定裝置,轉(zhuǎn)盤的上方設(shè)置固定板,固定板靠近上料架一側(cè)的頂部設(shè)有推動氣缸。本發(fā)明的有益效果是:實現(xiàn)OIS零部件的自動上料,減少OIS零部件性能檢測時的人工成本浪費。同時通過多個固定裝置上的多個放置槽進行OIS零部件的放置,使一次動作即可對兩個OIS零部件進行同一項性能測試,進而實現(xiàn)OIS零部件的性能比對測試,使OIS零部件的測試結(jié)果更加趨向于單批次零部件的平均水平。
聲明:
“一種OIS測試設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)