本發(fā)明公開了一種光源自動測試系統(tǒng),包括上下燈機械裝置、用于測量被測光源光學性能的光學測量裝置、上燈單元、下燈單元以及用來驅動被測光源至光學測量裝置處實現(xiàn)光學性能檢測的環(huán)形傳送裝置;所述的光學測量裝置位于環(huán)形傳送裝置的傳送路徑上,所述的上下燈機械裝置從上燈單元抓取待測的被測光源移送至環(huán)形傳送裝置,且從環(huán)形傳送裝置抓取已測的被測光源移送至下燈單元;所述的上燈單元包括多個用以安裝被測光源的燈座;所述的環(huán)形傳送裝置與上燈單元相獨立設置,所述的下燈單元也與環(huán)形傳送裝置相獨立設置。通過所述的上燈單元可對被測光源進行提前老煉,傳送過程可實現(xiàn)被測光源的自動預熱穩(wěn)定,測試結束可對被測光源進行合格判定,整個測試過程由控制單元控制自動完成。與現(xiàn)有的光源自動測試系統(tǒng)相比,本發(fā)明提供的測試系統(tǒng)具有自動化程度高、測試精度高、操作簡便、節(jié)約人工成本和空間成本,適用范圍廣等優(yōu)點,適用于實驗室光源的高精度快速測量。
聲明:
“一種光源自動測試系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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