本申請(qǐng)公開了一種硬盤檢測(cè)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，該方法通過(guò)獲取硬盤存儲(chǔ)器對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)系統(tǒng)中目標(biāo)系統(tǒng)分層的響應(yīng)延遲，目標(biāo)系統(tǒng)分層為存儲(chǔ)系統(tǒng)中的任一層級(jí)系統(tǒng)分層；將目標(biāo)系統(tǒng)分層的響應(yīng)延遲與目標(biāo)系統(tǒng)分層對(duì)應(yīng)的延遲閾值進(jìn)行比較，得到目標(biāo)系統(tǒng)分層對(duì)應(yīng)的比較結(jié)果；基于比較結(jié)果，確定目標(biāo)系統(tǒng)分層是否存在卡頓。由此，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)硬盤進(jìn)行性能檢測(cè)時(shí)，能夠定位到硬盤存儲(chǔ)器對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)系統(tǒng)中的系統(tǒng)分層進(jìn)行檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)硬盤性能的精準(zhǔn)檢測(cè)。