本發(fā)明公開(kāi)了一種光電模塊檢測(cè)方法，包括以下步驟：S1、構(gòu)建光電模塊檢測(cè)電路，控制器初始化并與光電模塊檢測(cè)電路適配；S2、關(guān)閉光電模塊檢測(cè)電路的采樣端，啟動(dòng)控制器，控制器獲得當(dāng)前光電模塊的檢測(cè)參數(shù)，對(duì)當(dāng)前的輸入值進(jìn)行預(yù)處理，記為W0；S3、開(kāi)啟光電模塊檢測(cè)電路的采樣端；控制器獲得當(dāng)前光電模塊的輸入值，對(duì)當(dāng)前的輸入值進(jìn)行預(yù)處理，記為W1。通過(guò)采用本發(fā)明設(shè)計(jì)的檢測(cè)方法，能夠不需要安裝光纖網(wǎng)卡，直接將光電模塊本身作為測(cè)試對(duì)象，可以直接對(duì)光電模塊進(jìn)行單體檢測(cè)，從而既可以核實(shí)光電模塊的出廠信息、基本工作參數(shù)、光電模塊自身異常，也可以對(duì)光電模塊進(jìn)行性能檢測(cè)，提高了檢測(cè)效率。