本發(fā)明公開了一種晶閘管帶外電路開展耐壓性能測試的漏電流計算方法,包括:讀取晶閘管阻尼回路的阻尼電容容值C
b和均壓電阻阻值R
DC;讀取晶閘管帶外電路開展耐壓性能測試的晶閘管電壓采樣數(shù)據(jù)U(t);對U(t)進(jìn)行平滑處理,得到平滑后的波形Us(t);截取一個周期20ms的U
s(t)數(shù)據(jù);計算所截取的U
s(t)數(shù)據(jù)的最大值U
max、最小值U
min以及最大值最小值出現(xiàn)的時間差t;利用U
max、U
min、t、C
b計算阻尼電容放電電流I
cb;再利用I
cb計算得到晶閘管漏電流I
th。本發(fā)明根據(jù)阻尼電容和均壓電阻參數(shù),利用晶閘管電壓的采樣數(shù)據(jù)計算晶閘管漏電流,一方面避免了晶閘管耐壓性能測試過程中增加電流測點(diǎn),另一方面也使帶外電路開展晶閘耐壓性能檢測成為可能。
聲明:
“一種晶閘管帶外電路開展耐壓性能測試的漏電流計算方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)