本發(fā)明涉及磁性材料電磁性能檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種降溫測量磁性材料居里溫度的方法。本發(fā)明通過采用加熱后待測樣品自然降溫的過程中獲其降溫U?T曲線,同時提供了優(yōu)選的加熱裝置保溫層設(shè)置,并在軟件端設(shè)置較高頻率的實時降溫數(shù)據(jù)采集;相比現(xiàn)有加熱方式測試居里溫度的方法無需考慮加熱過程中的安全問題,因而更為安全;并且消除了由于加熱測量中馬弗爐加熱方式內(nèi)部產(chǎn)生的新磁場,從而影響測量精度的問題。
聲明:
“一種降溫測量磁性材料居里溫度的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)