本申請涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，具體公開了一種陣列基板、顯示裝置及陣列基板的檢測方法，該陣列基板包括顯示區(qū)和包圍顯示區(qū)的非顯示區(qū)，顯示區(qū)包括多條柵線和多條數(shù)據(jù)線，多條柵線和多條數(shù)據(jù)線垂直交叉設(shè)置；非顯示區(qū)包括與柵線連接的柵開關(guān)、與數(shù)據(jù)線連接的數(shù)據(jù)開關(guān)、與柵開關(guān)連接的柵焊盤、與數(shù)據(jù)開關(guān)連接的數(shù)據(jù)焊盤以及與柵焊盤和數(shù)據(jù)焊盤均連接的控制器，控制器用于打開柵開關(guān)，非顯示區(qū)還包括用于打開數(shù)據(jù)開關(guān)的公共焊盤。通過控制器和公共焊盤的設(shè)置使得數(shù)據(jù)開關(guān)和柵開關(guān)可以獨自的完成打開的動作，實現(xiàn)陣列基板的性能檢測，保障陣列基板的制備良率；并且無須在非顯示區(qū)內(nèi)額外設(shè)置焊盤區(qū)域用于連接，節(jié)省陣列基板的外圍布線空間。