本發(fā)明公開(kāi)了磁共振相控陣線圈性能快速檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法,在磁共振相控陣線圈的每一個(gè)通道上設(shè)置線圈射頻開(kāi)關(guān),并且與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的至少兩個(gè)端口連接,以實(shí)現(xiàn)磁共振相控陣N通道線圈的單條通道線圈獨(dú)立測(cè)量以及單組完整鏈路測(cè)試、射頻線圈發(fā)射自動(dòng)切換不同線圈通道的測(cè)量的單條接收鏈路性能檢測(cè),還用于實(shí)現(xiàn)磁共振相控陣線圈N通道線圈的通道線圈的耦合性能測(cè)量和單組通道線圈中對(duì)失諧電路及低噪聲放大器振蕩的快速測(cè)量。本發(fā)明的快速檢測(cè)裝置及方法,有效地節(jié)省了常規(guī)檢測(cè)中繁雜的接插線的步驟,解決了常規(guī)檢測(cè)時(shí)大量數(shù)據(jù)保存步驟的繁雜操作,消除了人為接線時(shí)的重復(fù)操作,提升了磁共振相控陣線圈性能的檢測(cè)速度和效率。
聲明:
“一種磁共振相控陣線圈性能快速檢測(cè)裝置及其檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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