本發(fā)明公開了一種電路板靜態(tài)測試系統(tǒng)及測試方法,屬于電路板性能檢測技術(shù)領(lǐng)域,解決了現(xiàn)有技術(shù)中電路板靜態(tài)測試的測試針無法做到以一定的角度探測電路板的測試點、價格昂貴的問題。該系統(tǒng)包括姿態(tài)控制器、測試單元、控制器以及具有多自由度的機械臂;控制器包括姿態(tài)控制模塊、采集控制模塊和坐標(biāo)姿態(tài)存儲模塊,測試單元包括通訊模塊和采集模塊,機械臂通過姿態(tài)控制器與姿態(tài)控制模塊信號連接,采集模塊通過通訊模塊與采集控制模塊信號連接;采集模塊設(shè)于機械臂的活動端上。該測試系統(tǒng)和方法可用于電路板靜態(tài)。
聲明:
“一種電路板靜態(tài)測試系統(tǒng)及測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)