本發(fā)明涉及一種存儲單元的檢測方法和檢測電路。存儲單元的檢測方法包括如下步驟:在封裝存儲塊之前,將存儲塊邊緣單元的字線的一端以及位線的一端分別通過第一放大器和第二放大器,與內(nèi)建自測邏輯電路的輸入端連接;對與內(nèi)建自測邏輯電路連接的字線和位線施加測量電壓或測量電流;通過內(nèi)建自測邏輯電路的輸出端輸出邊緣單元的測量結(jié)果。將位于存儲塊邊緣單元的字線的一端以及位線的一端分別通過第一放大器和第二放大器與內(nèi)建自測邏輯電路的輸入端連接,再施加測量電壓或測量電流,通過內(nèi)建自測邏輯電路的輸出端輸出測量結(jié)果,能夠在不影響存儲單元的情況下對存儲塊進行性能檢測,方法便捷,不影響產(chǎn)品良率和產(chǎn)品成本。
聲明:
“一種存儲單元的檢測方法和檢測電路” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)