本發(fā)明實(shí)施例提供的一種檢測(cè)裝置,所述檢測(cè)裝置包括電源、電源檢測(cè)模塊、主控模塊以及射頻模塊,通過(guò)所述電源檢測(cè)模塊檢測(cè)所述被測(cè)LoRa模塊的工作電流,所述主控模塊根據(jù)所述工作電流對(duì)所述被測(cè)LoRa模塊的功耗進(jìn)行分析,以檢測(cè)所述被測(cè)LoRa模塊的功耗是否合格,所述射頻模塊接收所述主控模塊控制所述被測(cè)LoRa模塊發(fā)射的射頻信號(hào),所述主控模塊對(duì)所述射頻信號(hào)進(jìn)行分析,以檢測(cè)所述被測(cè)LoRa模塊的射頻性能是否合格,從而可在LoRa模塊的生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)LoRa模塊進(jìn)行相關(guān)的性能檢測(cè),避免生產(chǎn)出的LoRa模塊質(zhì)檢要求不過(guò)關(guān),生產(chǎn)效率低的問(wèn)題。
聲明:
“檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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