本發(fā)明公開LCM、TP一體測試機,將LCM測試機、TP測試機集成在一起,實施共地處理,以消除分開測試時LCM的零參考電勢與TP的零參考電勢存在差異引發(fā)的性能檢測偏差問題,從而提高檢測的正確性;LCM、TP測試可同步進行,可提高檢測效率,還可由同一人進行,節(jié)省人力的投入,降低測試成本。
聲明:
“LCM、TP一體測試機” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)