本發(fā)明涉及硬盤(pán)性能測(cè)試領(lǐng)域，具體涉及一種基于fio與ipmitool的硬盤(pán)來(lái)料檢驗(yàn)方法，實(shí)現(xiàn)了對(duì)硬盤(pán)的自動(dòng)化檢測(cè)，極大地提高了檢測(cè)效率以及準(zhǔn)確性。技術(shù)方案包括：設(shè)置來(lái)料檢驗(yàn)需要的循環(huán)開(kāi)關(guān)機(jī)次數(shù)，確定需要收集信息的待測(cè)硬盤(pán)以及收集硬盤(pán)smart信息的方式，通過(guò)fio工具對(duì)待測(cè)硬盤(pán)進(jìn)行IO讀寫(xiě)，在待測(cè)硬盤(pán)IO讀寫(xiě)進(jìn)行時(shí)，通過(guò)ipmitool工具進(jìn)行服務(wù)器重啟，強(qiáng)制中斷待測(cè)硬盤(pán)的IO讀寫(xiě)過(guò)程，并重新啟動(dòng)服務(wù)器運(yùn)行，重啟后，自動(dòng)收集所有硬盤(pán)的smart信息，并生成測(cè)試結(jié)果文件存放路徑，將記錄硬盤(pán)的smart信息日志文件存放到路徑目錄下，目錄名稱與循環(huán)次數(shù)相關(guān)聯(lián)，循環(huán)完成后，對(duì)整個(gè)過(guò)程的日志文件進(jìn)行自動(dòng)識(shí)別、分析、判斷，輸出測(cè)試結(jié)果。本發(fā)明適用于硬盤(pán)性能檢測(cè)。