本發(fā)明公開(kāi)LCM、TP一體測(cè)試機(jī),將LCM測(cè)試機(jī)、TP測(cè)試機(jī)集成在一起,實(shí)施共地處理,以消除分開(kāi)測(cè)試時(shí)LCM的零參考電勢(shì)與TP的零參考電勢(shì)存在差異引發(fā)的性能檢測(cè)偏差問(wèn)題,從而提高檢測(cè)的正確性;LCM、TP測(cè)試可同步進(jìn)行,可提高檢測(cè)效率,還可由同一人進(jìn)行,節(jié)省人力的投入,降低測(cè)試成本。
聲明:
“LCM、TP一體測(cè)試機(jī)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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