本實用新型涉及一種多用途型激光微電測試檢測機構(gòu),包括底座主體和滑動測試機構(gòu);其中,底座主體包括,底板和負(fù)極測試頭組件;滑動測試機構(gòu)包括,導(dǎo)軌滑塊組件和正極探針測試頭;導(dǎo)軌滑塊組件固定連接在底板上;負(fù)極測試頭組件固定安裝在底板上,正極探針測試頭固定安裝在滑動測試機構(gòu)上;底板上設(shè)置有待測產(chǎn)品安裝部,用于放置待測產(chǎn)品,待測產(chǎn)品位于負(fù)極測試頭組件和正極探針測試頭之間。本實用新型通過機構(gòu)連接待測產(chǎn)品的正負(fù)極進行半成品過程中電性能檢測,以替代產(chǎn)品正負(fù)極直接連接外置電源,避免了虛接打火產(chǎn)生的瞬時大電流導(dǎo)致激光
芯片被擊穿。
聲明:
“一種多用途型激光微電測試檢測機構(gòu)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)