本申請(qǐng)公開(kāi)了一種自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)，包括第一圖像獲取設(shè)備、透明支撐膜和第二圖像獲取設(shè)備；第一圖像獲取設(shè)備和第二圖像獲取設(shè)備分別設(shè)置于透明支撐膜相對(duì)的兩側(cè)，第一圖像獲取設(shè)備的鏡頭和第二圖像獲取設(shè)備的鏡頭分別朝向透明支撐膜。本申請(qǐng)中，通過(guò)在透明支撐膜的上方和下方分別設(shè)置圖像獲取設(shè)備，當(dāng)待測(cè)芯片放置于透明支撐膜上之后，第一圖像獲取設(shè)備和第二圖像獲取設(shè)備可以分別獲取芯片背面的圖像和正面的圖像，根據(jù)背面的圖像可以完成外觀(guān)檢測(cè)，根據(jù)正面的圖像可以完成光電性能檢測(cè)。由此，實(shí)現(xiàn)了一個(gè)工序采集芯片兩面的圖像，進(jìn)而可以達(dá)到一次性檢測(cè)芯片兩面的目的，減少了生產(chǎn)工序，加快了生產(chǎn)節(jié)拍，節(jié)約了生產(chǎn)資源。