本實(shí)用新型公開了一種光纖涂覆層異常處檢出裝置,包括有放置光纖的光纖盤、用于給光纖通光的光纖筆、用于檢測光纖的熱成像儀以及張力篩選機(jī);所述光纖的一端與張力篩選機(jī)連接,所述張力篩選機(jī)對光纖進(jìn)行性能檢測,所述光纖的另一端與光纖筆連接,經(jīng)光纖筆照射使光纖通光,在所述光纖盤與張力篩選機(jī)之間設(shè)置熱成像儀,用于檢測通光后光纖上的異常點(diǎn)。對光纖通光,并對通光后的光纖使用熱成像儀檢測,熱成像儀可以對光纖的異常處檢出,發(fā)現(xiàn)異常處可以對其進(jìn)行切除操作,防止后續(xù)光纖在異常處損壞。
聲明:
“光纖涂覆層異常處檢出裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)