本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例公開了一種表貼晶振的可靠性篩選方法,包括:對(duì)表貼晶振進(jìn)行電性能篩選測試,獲取初始測試數(shù)據(jù);對(duì)所述表貼晶振進(jìn)行力學(xué)篩選測試;對(duì)所述表貼晶振進(jìn)行熱學(xué)篩選測試;對(duì)所述表貼晶振進(jìn)行常溫電性能參數(shù)終測篩選測試;對(duì)所述表貼晶振進(jìn)行高低溫測試篩選測試;對(duì)表貼晶振進(jìn)行外觀檢查非破壞性篩選測試;根據(jù)上述篩選測試結(jié)果與初始測試數(shù)據(jù)的比對(duì)結(jié)果,篩選出符合要求的表貼晶振。
聲明:
“一種表貼晶振的可靠性篩選方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)