本發(fā)明涉及一種基于帶電測試與有限元仿真的開關(guān)柜優(yōu)化方法及該開關(guān)柜,該方法根據(jù)開關(guān)柜型號結(jié)構(gòu)進行三維建模,獲得了開關(guān)柜穿墻套管、母線室、觸頭盒電場的電場分布特征,并找出了電場集中點。在與現(xiàn)場局放測試對應(yīng)研究分析后,找出局放異常原因,并提出改進措施。從運維到選型,形成開關(guān)柜的全生命周期管理。
聲明:
“基于帶電測試與有限元仿真的開關(guān)柜優(yōu)化方法及該開關(guān)柜” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)