本發(fā)明公開了一種
芯片測試裝置及其測試方法,屬于芯片測試領(lǐng)域。一種芯片測試裝置,包括檢測箱和設(shè)備箱,所述檢測箱固定連接在設(shè)備箱上,所述設(shè)備箱內(nèi)轉(zhuǎn)動連接有轉(zhuǎn)動桿,所述設(shè)備箱上固定連接有氣缸和活塞缸,所述推桿上固定連接有摩擦桿,所述氣缸上固定連接有摩擦板,所述摩擦桿滑動連接在摩擦板上,所述轉(zhuǎn)動桿通過往復(fù)機(jī)構(gòu)與推桿相連接,所述氣缸上固定連接有出氣管,所述活塞缸上滑動連接有活塞桿;本發(fā)明使用簡單,操作方便,通過把不同檢測環(huán)境放置在一起進(jìn)行檢測,減少了檢測時間,提高了檢測效率,同時增加了檢測的多樣性,提高了對不同檢測數(shù)據(jù)下芯片數(shù)據(jù)的收集,增加了使用安全保障。
聲明:
“一種芯片測試裝置及其測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)