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一種FPGA基本性能測試裝置

1144   編輯:管理員   來源:中冶有色技術(shù)網(wǎng)  
2023-03-19 06:32:55
本實用新型屬于電子技術(shù)類,涉及一種FPGA器件基本性能測試裝置,主要包括過流保護電路、電源轉(zhuǎn)換電路、BGA測試插座,F(xiàn)PGA外圍電路、I/O測試電路、指示燈電路等。用于快速測量FPGA基本性能,包括上電引導(dǎo)、I/O引腳短路開路測試。由+5V電源適配器通過USB接口為檢測工裝供電,BGA測試插座用于固定被測芯片,測試時將被測芯片裝在BGA插座上。FPGA外圍電路包含PROM及外圍引導(dǎo)電路,PROM存放測試程序。I/O測試電路針對FPGA通用I/O特性,設(shè)計I/O輸出輸入驅(qū)動電路,對每個FPGA引腳輸出輸入特性進行測試。本測試裝置檢測FPGA芯片基本性能,用于芯片質(zhì)量控制,保證后續(xù)生產(chǎn)順利進行。
聲明:
“一種FPGA基本性能測試裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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