一種用于
電化學(xué)測(cè)試分析的測(cè)試筆,包括筆身和筆頭,所述筆身內(nèi)部設(shè)置有輔助電極通道、電解質(zhì)腔體和參比電極,筆身側(cè)壁上設(shè)置有與所述電解質(zhì)腔體相連的電解質(zhì)入口和電解質(zhì)出口;所述輔助電極通道底端與電解質(zhì)腔體連通,輔助電極通道內(nèi)部的輔助電極頂端與測(cè)試電路相連,底端插入電解質(zhì)腔體內(nèi)部;所述參比電極固定于電解質(zhì)腔體內(nèi)部,頂端穿出電解質(zhì)腔體與測(cè)試電路相連,底端位于輔助電極底端的上部;所述筆頭頂部與筆身可拆卸地連接,筆頭底部尖端為測(cè)量頭,所述電解質(zhì)腔體與筆頭底部的測(cè)量頭連通。該測(cè)試筆可實(shí)現(xiàn)對(duì)非均質(zhì)材料微小區(qū)域的電化學(xué)腐蝕參數(shù)的精確測(cè)量。
聲明:
“用于電化學(xué)測(cè)試分析的測(cè)試筆” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)