公開了用于樣品的分析檢查的測試元件分析系統(tǒng)（110）以及用于樣品的分析檢查的方法。測試元件分析系統(tǒng)（110）包括測量裝置（112），測量裝置（112）包括用于至少部分地接收至少一個(gè)測試元件（116）的測試元件接受器（114），其中，測試元件接受器（114）包括至少一個(gè)第一部分（118）和至少一個(gè)第二部分（120），其中，第一部分（118）包括用于置放測試元件（116）的至少一個(gè)支撐表面（144），其中，第二部分（120）包括至少一個(gè)光學(xué)檢測器（128），所述光學(xué)檢測器用于檢測在測試元件（116）中包含的至少一種測試化學(xué)物質(zhì)（154）的至少一種檢測反應(yīng)，其中，第二部分（120）可相對于第一部分（118）移動(dòng)，其中，測試元件接受器（114）配置成將第二部分（120）定位在至少一個(gè)位置中，使得測試元件（116）可以插入到測試元件接受器（114）中，且隨后將第二部分（120）定位在關(guān)閉位置（182）中，使得第二部分（120）的至少一個(gè)鄰接表面（184）靜止在測試元件（116）上。