本發(fā)明涉及一種基于集成三電極體系微
芯片的
電化學(xué)與電化學(xué)發(fā)光的檢測方法。步驟如下:(1)制作集成三電極的聚甲基丙烯酸基片;(2)制作聚二甲基硅氧烷蓋片;(3)微芯片?電化學(xué)工作站檢測裝置。本發(fā)明首次將不同材料的微電極集成到了單片PMMA基片上,提高了測試裝置的集成度,不需外接電極,便攜性好、檢測響應(yīng)速度快,檢測精度高,可達1×10?6M,并可以進行調(diào)整。測試方法的重復(fù)性好,100次以上數(shù)據(jù)誤差小。同時清洗電極簡單,可更換PDMS蓋片,延長了測試裝置的使用壽命、使用聚合物材料進行加工,生化兼容性好,基片透明,可兼容電化學(xué)與電化學(xué)發(fā)光檢測,化學(xué)試劑消耗量為0.1毫升/次,顯著地降低了測試成本。
聲明:
“基于集成三電極體系微芯片的電化學(xué)與電化學(xué)發(fā)光檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)