本發(fā)明公開了銅離子
電化學(xué)發(fā)光檢測(cè)電極、檢測(cè)器及其制備方法與應(yīng)用,本發(fā)明的銅離子電化學(xué)發(fā)光檢測(cè)器將一維的g?C3N4納米管材料作為陰極電化學(xué)發(fā)光體系中的發(fā)光體;同時(shí)使用g?C3N4納米管/K2S2O8電化學(xué)發(fā)光體系實(shí)現(xiàn)對(duì)Cu2+的高效靈敏檢測(cè)(檢測(cè)限可達(dá)0.025nM)。具有檢測(cè)范圍寬、靈敏度高、可控性好、操作簡(jiǎn)單以及反應(yīng)速度快等特點(diǎn),極大克服了相關(guān)技術(shù)中樣品前期處理繁瑣,儀器設(shè)備昂貴,需要專業(yè)技術(shù)人員操作,運(yùn)行成本高等缺點(diǎn)。
聲明:
“銅離子電化學(xué)發(fā)光檢測(cè)電極、檢測(cè)器及其制備方法與應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)