本發(fā)明公開了一種用于電化學(xué)檢測(cè)的微流控芯片測(cè)試設(shè)備，屬于芯片檢測(cè)設(shè)備領(lǐng)域，一種用于電化學(xué)檢測(cè)的微流控芯片測(cè)試設(shè)備，包括檢測(cè)臺(tái)，檢測(cè)臺(tái)上滑動(dòng)連接有一對(duì)檢測(cè)夾具，檢測(cè)夾具包括C型架，C型架上插接有兩對(duì)調(diào)節(jié)桿，調(diào)節(jié)桿包括立桿，立桿的上下兩端分別連接有調(diào)節(jié)螺母和，每對(duì)調(diào)節(jié)桿之間連接有活動(dòng)板，活動(dòng)板上固定連接有檢測(cè)探針，檢測(cè)臺(tái)的兩端之間連接有調(diào)節(jié)板，檢測(cè)臺(tái)的兩端均滑動(dòng)連接有一對(duì)與調(diào)節(jié)板相匹配的調(diào)節(jié)架，本方案可以實(shí)現(xiàn)易于適應(yīng)任意形狀的PLC電路板，使PLC電路板可處以任意傾斜狀態(tài)進(jìn)行檢測(cè)，解決現(xiàn)有技術(shù)中固定微流控芯片的裝置穩(wěn)定性差、易偏移、無法應(yīng)用到精確實(shí)驗(yàn)，有時(shí)會(huì)損壞芯片等問題。