本發(fā)明提供了一種具有非拋棄式參比電極結(jié)構(gòu)的
電化學(xué)檢測
芯片,本發(fā)明所述芯片將芯片上參比電極同電化學(xué)反應(yīng)池隔離開來,中間通過金屬或非金屬條帶相連。金屬或非金屬條帶同芯片結(jié)構(gòu)的微納縫隙進(jìn)行離子交換以及金屬或非金屬條帶的電位傳導(dǎo)的共同作用,維持參比電極的正常工作。利用本發(fā)明的技術(shù)方案,可以解決常規(guī)電化學(xué)芯片參比電極測試時(shí)直接同待測溶液接觸,從而造成電化學(xué)檢測體系部分受限且參比電極的穩(wěn)定性較差等問題,本發(fā)明所述芯片可以提高芯片上參比電極體系的穩(wěn)定性,延長了其壽命,使得電化學(xué)檢測芯片能夠適應(yīng)較長時(shí)間的使用。
聲明:
“具有非拋棄式參比電極結(jié)構(gòu)的電化學(xué)檢測芯片” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)