本申請(qǐng)公開了一種
電化學(xué)發(fā)光檢測(cè)設(shè)備,涉及醫(yī)學(xué)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。電化學(xué)發(fā)光檢測(cè)設(shè)備包括檢測(cè)機(jī)構(gòu)、驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)以及至少兩承載
芯片;所述至少兩承載芯片均用于承載待檢測(cè)樣本;所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)用于與所述承載芯片連接,以對(duì)對(duì)應(yīng)的所述承載芯片通電及進(jìn)行信號(hào)采集;所述至少兩承載芯片安裝于所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)上;所述驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)用于驅(qū)動(dòng)所述至少兩承載芯片移動(dòng),以使所述至少兩承載芯片逐個(gè)與所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)對(duì)應(yīng)連接。本申請(qǐng)?zhí)峁┑碾娀瘜W(xué)發(fā)光檢測(cè)設(shè)備可提高檢測(cè)效率。
聲明:
“電化學(xué)發(fā)光檢測(cè)設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)