本實(shí)用新型屬于
電化學(xué)芯片技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種透射電鏡電化學(xué)檢測(cè)芯片,包括上片和下片,上片和下片都為正反面都設(shè)有絕緣層的硅基片,上片的正面與下片的正面通過(guò)粘結(jié)層固定粘結(jié),上片、下片和粘結(jié)層共同構(gòu)成一腔室;上片上設(shè)有注樣口和第一視窗,下片上設(shè)有工作電極、參比電極、對(duì)電極、第二視窗和溫度計(jì),工作電極、參比電極和對(duì)電極都搭設(shè)在第二視窗上。本實(shí)用新型提供的透射電鏡電化學(xué)檢測(cè)芯片的下片設(shè)置有溫度計(jì),溫度計(jì)可以用于實(shí)時(shí)監(jiān)控反應(yīng)溫度,便于使用者更好地了解電化學(xué)反應(yīng)吸放熱反應(yīng)類(lèi)型以及溫度對(duì)電化學(xué)反應(yīng)的影響。
聲明:
“透射電鏡電化學(xué)檢測(cè)芯片” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)