本發(fā)明屬于電解池技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種
電化學原位薄層流動電解池及其檢測方法和應用;所述電解池適用于和頻光譜和X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜,能夠?qū)崿F(xiàn)原位表/界面光譜檢測。所述電解池包括:頂蓋,用于插入?yún)⒈入姌O和測溫探頭;池體,設(shè)置工作電極和輔助電極,為電解反應的場所;底座,用于支撐所述池體并放置相關(guān)電極連線出口、溶液進出管;所述頂蓋、池體和底座順序疊加密封。所述電解池可通過更換安裝了不同頂蓋窗口片的頂蓋使液池適用于和頻光譜和X射線吸收譜檢測。所述電解池還能夠?qū)崿F(xiàn)流動液體池的原位光譜檢測。
聲明:
“電化學原位薄層流動電解池及其檢測方法和應用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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