本發(fā)明屬于分析化學(xué)領(lǐng)域,具體涉及一種界面光電子轉(zhuǎn)移及材料光催化活性的測(cè)定方法及四維顯微成像分析儀。所述四維顯微成像分析儀包括樣品靶、激光器、狹縫、提取極、六級(jí)桿、四級(jí)桿、飛行時(shí)間質(zhì)量分析器、檢測(cè)器、給樣品靶、狹縫、提取極和六級(jí)桿提供電壓的裝置。本發(fā)明利用
半導(dǎo)體材料在激光照射下產(chǎn)生光生電子的隧道效應(yīng)和電子受體分子的俘獲原理,通過測(cè)定電子受體分子俘獲界面轉(zhuǎn)移光生電子或電子受體分子俘獲界面轉(zhuǎn)移光生電子引發(fā)光化學(xué)反應(yīng)所得產(chǎn)物的質(zhì)荷比及離子信號(hào)、并通過圖像重構(gòu)獲得光催化活性位點(diǎn)的顯微成像,一方面可以判斷半導(dǎo)體材料光催化活性位點(diǎn),另一方面可以判斷電子受體分子發(fā)生光化學(xué)反應(yīng)的難易以及所得光化學(xué)反應(yīng)產(chǎn)物。
聲明:
“界面光電子轉(zhuǎn)移及材料光催化活性的測(cè)定方法及四維顯微成像分析儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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