本發(fā)明涉及一種基于量子弱測量的弱磁場強度測量分析儀及方法,利用磁光法拉第效應將待測位置的磁場轉換為與光子自旋分裂相關的測量參數(shù)。此方法中,光子自旋分裂對旋光效應非常敏感,而對光源的波動性和環(huán)境噪聲不敏感,因此可以很好的抑制噪聲,提高測量精度。光子的自旋分裂可通過量子弱測量放大(表現(xiàn)為通過前、后偏振態(tài)后,探測器上光斑的質心位移,即依據(jù)光斑的能量分布計算得到的能量重心位置),進行精確測定,從而高精度的獲得待測位置沿光路方向的磁場強度。本發(fā)明所公布的基于量子弱測量的弱磁場傳感技術對噪聲的抑制能力較強,也可以作為一種實時、無標記的高靈敏度磁效應測量技術,在物理、化學、生物及工程技術等領域有較大應用。
聲明:
“基于量子弱測量的弱磁場強度測量分析儀及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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