本發(fā)明屬于電化學(xué)測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種降低電化學(xué)測(cè)試條中還原性干擾物影響的電化學(xué)測(cè)量方法。本發(fā)明所述電化學(xué)測(cè)量方法為分別測(cè)量目標(biāo)分析物所產(chǎn)生的電流信號(hào)I1和還原性干擾物產(chǎn)生的干擾電流信號(hào)I2，由目標(biāo)分析物所產(chǎn)生的電流信號(hào)I1和還原性干擾物產(chǎn)生的干擾電流信號(hào)I2計(jì)算出相應(yīng)的校正系數(shù)k，用校正系數(shù)k校正目標(biāo)分析物所產(chǎn)生的電流信號(hào)，得到與目標(biāo)分析物真實(shí)濃度相對(duì)應(yīng)的真實(shí)校正電流值Ic；其中Ic＝I1/k。本發(fā)明所述測(cè)量方法可有效減小還原性干擾物對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，不僅適用于降低檢測(cè)氧化電流時(shí)的正干擾，而且可有效消除檢測(cè)還原電流時(shí)負(fù)干擾，測(cè)量準(zhǔn)確度高，抗干擾能力強(qiáng)，適用范圍廣。