本發(fā)明涉及用于確定化學(xué)敏感場效應(yīng)晶體管的測量值的方法和裝置,其中該方法具有提供第一信號和第二信號的步驟,其中至少該第一信號利用一個放大系數(shù)而被放大。另外該方法還具有用于給該化學(xué)敏感場效應(yīng)晶體管供給該第一信號的步驟,以獲得輸出信息。在該供給步驟中另外還給該參照晶體管供給該第二信號,以獲得參照信息,其中該化學(xué)敏感場效應(yīng)晶體管被施加有被測流體,并且該參照晶體管處于參照環(huán)境中。另外該方法還具有用于把該輸出信息與該參照信息相比較的步驟,以響應(yīng)于比較結(jié)果來匹配放大系數(shù)。另外該方法還具有分析該放大系數(shù)的步驟,以獲得該測量值。
聲明:
“用于確定化學(xué)敏感場效應(yīng)晶體管的測量值的方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)