本發(fā)明公開了一種基于原子力顯微鏡的
電化學(xué)反應(yīng)過程原位監(jiān)測裝置及其監(jiān)測方法,本發(fā)明通過將原子力顯微鏡和電化學(xué)工作站聯(lián)合使用,使得原子力顯微鏡可以原位監(jiān)測得到電化學(xué)反應(yīng)過程中界面微觀結(jié)構(gòu)上的衍變信息。所述的測試裝置將局域鍍金的硅片作為工作電極、銀絲和鉑線分別作為參比電極和對電極實現(xiàn);本發(fā)明的方法適用于各種電化學(xué)過程,如電化學(xué)沉積、電化學(xué)腐蝕以及電化學(xué)合成等領(lǐng)域,并可以根據(jù)時間,施加電勢、反應(yīng)物種濃度以及環(huán)境條件如溫濕度、pH以及氣氛等條件對電化學(xué)界面處的變化進(jìn)行原位探測。采用本發(fā)明可以得到常規(guī)方法無法獲取的其微觀界面上的電化學(xué)衍變信息,這有助于對電化學(xué)反應(yīng)機(jī)理的深入理解。
聲明:
“基于原子力顯微鏡的電化學(xué)反應(yīng)過程原位監(jiān)測裝置及其監(jiān)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)