根據(jù)本發(fā)明的用于
電化學(xué)儲(chǔ)能設(shè)備的測(cè)量方法,電化學(xué)儲(chǔ)能設(shè)備在容納設(shè)備中容納(S1)和接觸(S2)。電化學(xué)儲(chǔ)能設(shè)備被充電至預(yù)定的第一充電狀態(tài)(S3)。電化學(xué)儲(chǔ)能設(shè)備被放電至預(yù)定的第二充電狀態(tài)(S4)。借助測(cè)量設(shè)備獲取對(duì)所述電化學(xué)儲(chǔ)能設(shè)備的物理參數(shù)的至少一個(gè)測(cè)定值(S5),其中所述物理參數(shù)使得推斷出所述電化學(xué)儲(chǔ)能設(shè)備的工作狀態(tài)成為可能。
聲明:
“用于電化學(xué)儲(chǔ)能設(shè)備的測(cè)量方法和測(cè)量裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)