化驗(yàn)(100)可以利用具有可以包括反應(yīng)容器室(610)的底盤(405)的發(fā)光計(jì)(400)進(jìn)行。發(fā)光計(jì)(400)還可以包括光通道(640),該光通道(640)與反應(yīng)容器室(610)相交。發(fā)光計(jì)(400)還可以包括蓋(415),當(dāng)處于閉合配置時(shí),蓋(415)防止由外部光源發(fā)射的光進(jìn)入反應(yīng)容器室(610)并且進(jìn)入光通道(640)。當(dāng)處于打開配置時(shí),蓋(415)可以提供對(duì)反應(yīng)容器室(610)的訪問。發(fā)光計(jì)(400)還可以包括:光學(xué)地耦接至光通道(640)的一個(gè)端部的校準(zhǔn)光源(460)和光學(xué)地耦接至光通道(640)的另一端部的光檢測(cè)器(630)。光檢測(cè)器(630)可以包括用于接收來自光通道(640)的光的感測(cè)元件。
聲明:
“用于化學(xué)發(fā)光測(cè)量中的模擬光測(cè)量和光子計(jì)數(shù)的系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)