本發(fā)明提供了一種
納米材料單晶應(yīng)力場耦合
電化學(xué)測試裝置及方法,解決現(xiàn)有測試方法無法實現(xiàn)二維材料定量應(yīng)變下的電化學(xué)測試問題。測試裝置包括光學(xué)顯微鏡、電化學(xué)工作站、電化學(xué)原位測試單元和應(yīng)力施加單元;電化學(xué)原位測試單元包括自上而下配合安裝的測試主體以及測試底座;應(yīng)力施加單元包括探針、探針夾持組件以及三維移動平臺;探針通過探針夾持組件豎直安裝在三維移動平臺上,探針在三維移動平臺的調(diào)節(jié)下,對置于測試底座上的柔性襯底施加機(jī)械應(yīng)力,使待測納米材料發(fā)生應(yīng)變;光學(xué)顯微鏡通過小孔測量待測納米材料產(chǎn)生的應(yīng)變量;電化學(xué)工作站測量應(yīng)變量下測量待測納米材料的電化學(xué)性能。
聲明:
“納米材料單晶應(yīng)力場耦合電化學(xué)測試裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)