本申請(qǐng)公開了電化學(xué)參數(shù)預(yù)測方法、裝置、電子設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述電化學(xué)參數(shù)預(yù)測方法包括：構(gòu)建待測部品的等效電路，將待測部品的全頻段阻抗數(shù)據(jù)劃分為低頻段阻抗數(shù)據(jù)、中頻段阻抗數(shù)據(jù)和高頻段阻抗數(shù)據(jù)；采集待測部品的中頻段阻抗數(shù)據(jù)和高頻段阻抗數(shù)據(jù)；確定收斂的機(jī)器學(xué)習(xí)模型，將中頻段阻抗數(shù)據(jù)和高頻段阻抗數(shù)據(jù)輸入至收斂的機(jī)器學(xué)習(xí)模型，預(yù)測得到初始電化學(xué)參數(shù)；根據(jù)初始電化學(xué)參數(shù)，確定等效電路中各電路元件的目標(biāo)電化學(xué)參數(shù)。本申請(qǐng)?jiān)谔岣邔?duì)電化學(xué)參數(shù)的預(yù)測精度的同時(shí)，提升了預(yù)測效率。