本發(fā)明涉及一種
電化學(xué)測(cè)試用薄膜樣品及其制備方法,屬于金屬薄膜材料技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明的電化學(xué)測(cè)試用薄膜樣品,包括襯底層以及設(shè)置在襯底層上的金屬薄膜層,金屬薄膜層包括工作部和密封部;所述密封部遠(yuǎn)離襯底層的一側(cè)表面上導(dǎo)電連接有導(dǎo)電電極,所述密封部上設(shè)置有用來(lái)對(duì)導(dǎo)電電極與密封部的連接部位進(jìn)行覆蓋的絕緣密封層。本發(fā)明的電化學(xué)測(cè)試用薄膜樣品能夠使電極與待測(cè)樣品良好接觸,能夠保證非測(cè)試區(qū)域的絕緣密封性及待測(cè)樣品的有效測(cè)試面積,進(jìn)而保證待測(cè)樣品電化學(xué)性能測(cè)試的準(zhǔn)確性和靈敏度。
聲明:
“電化學(xué)測(cè)試用薄膜樣品及其制備方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)