本發(fā)明公開(kāi)了一種多維度的
電化學(xué)信息與多光譜信息結(jié)合測(cè)量方法,其中,所述測(cè)量方法包括:獲取被測(cè)物的表面形貌信息;根據(jù)所述表面形貌信息,確定所述電極陣列在被測(cè)物內(nèi)部的探測(cè)面,其中,所述探測(cè)面與所述被測(cè)物的表面的距離為預(yù)設(shè)的深度值;根據(jù)在預(yù)設(shè)的深度值下的所述電極陣列,確定所述被測(cè)物的電化學(xué)信息;同時(shí)通過(guò)預(yù)設(shè)深度值測(cè)量多光譜信息;本發(fā)明提供一種在不同溫度條件下,可精確控制探測(cè)深度的電化學(xué)和多光譜信息測(cè)量方法。
聲明:
“多維度的電化學(xué)信息與多光譜信息結(jié)合測(cè)量方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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