公開了用于執(zhí)行光學(xué)和
電化學(xué)測定的設(shè)備、系統(tǒng)和方法,更具體地,具有被配置為執(zhí)行光學(xué)和電化學(xué)測定的通用信道電路系統(tǒng)(245、1000)的設(shè)備和系統(tǒng),以及使用通用信道電路系統(tǒng)執(zhí)行光學(xué)和電化學(xué)測定的方法。通用信道電路系統(tǒng)是具有電子開關(guān)能力的電路系統(tǒng),使得任何接觸引腳(1063、1065、1070)以及因此測試設(shè)備(1062)中的任何傳感器接觸焊盤都能連接到能夠采用一種或多種測量模式或配置(例如,安培測量模式或電流驅(qū)動模式)的一個或多個信道(1005)。
聲明:
“用于執(zhí)行光學(xué)和電化學(xué)測定的設(shè)備、系統(tǒng)和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)