本發(fā)明涉及X射線應(yīng)用技術(shù)領(lǐng)域,用于化學(xué)價態(tài)研究的X射線吸收譜探測器及其方法。探測器由樣品支架,樣品S1,樣品S2,X射線光電二極管,濾波片,狹縫,大面積X射線光電二極管組成。其中樣品支架,與樣品S1、X射線光電二極管組成透射探測器部分;樣品支架又與樣品S2,濾波片,狹縫,大面積X射線光電二極管組成熒光探測器部分。它們共同利用同一個透射式電離室作為前電離室。兩探測器部分組成一體,相互呈一定角度。方法是:兩個探測器并列設(shè)置,分別用于待測樣品及標準比較樣品,每個探測器接收一部分同步輻射束線,當單色器進行光子能量掃描時,兩探測器同時采譜,則兩樣品的譜在能量標定上完全一制。
聲明:
“用于化學(xué)價態(tài)研究的X射線吸收譜探測器及其方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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