本發(fā)明涉及光學元件亞表面損傷的化學刻蝕測量方法、輔助實驗裝置及試驗方法,該方法通過測量刻蝕過程中樣品的粗糙度,繪制粗糙度輪廓隨刻蝕時間的演化關系曲線,來得到亞表面損傷深度值。利用化學刻蝕輔助裝置,實現對光學元件的刻蝕、清洗和烘干過程,并在清洗過程加入超聲震蕩儀輔助清洗,在烘干過程加入吹風機與電機輔助烘干。本發(fā)明能夠快速、準確地測量出亞表面損傷深度,且設計了一套刻蝕輔助裝置,裝置操作簡單、效率高、危險性低,而且能有效減少刻蝕過程中產生的沉積物,大大降低了其對刻蝕及測量的影響。
聲明:
“光學元件亞表面損傷的化學刻蝕測量方法、輔助實驗裝置及試驗方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
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