本發(fā)明提供一種硅質(zhì)聚渣劑的X熒光光譜分析法,采用四硼酸鋰試劑作熔劑,在高溫下將試樣熔融成玻璃樣片,然后利用X熒光光譜儀繪制的國家標(biāo)準(zhǔn)樣品曲線分析其待測元素強(qiáng)度,從而計(jì)算出待測元素的百分含量。與化學(xué)分析方法相比,本發(fā)明方法程序簡化,手續(xù)簡單,試劑種類少,可降低檢測費(fèi)用,凈化空氣質(zhì)量,且標(biāo)準(zhǔn)曲線一次繪制完成后可多次使用;可縮短測定時間,每批試樣可節(jié)省分析時間3小時,極大提高分析效率;以儀器代替手工分析,可減少分析誤差,提高分析準(zhǔn)確率,且干擾因素少,機(jī)體影響較小,穩(wěn)定性好。
聲明:
“硅質(zhì)聚渣劑的X熒光光譜分析法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)