本發(fā)明提供一種分析分子的方法,其使得能夠尤其在來自色譜分離的流中對所述分子進(jìn)行化學(xué)、結(jié)構(gòu)性及異構(gòu)或構(gòu)形鑒別,所述方法包含:由待分析的分子的樣品產(chǎn)生離子;在低于環(huán)境溫度下冷卻所產(chǎn)生的所述離子;通過在一或多個預(yù)定譜間隔內(nèi)用多個不同波長(λ)下的光輻射所述離子而使冷卻后的所述離子中的至少一些碎片化;記錄所述碎片化離子的碎片質(zhì)譜,其包含在m/z值的預(yù)定范圍內(nèi)針對所述多個不同波長(λ)中的每一個的檢測信號(I)與m/z的關(guān)系,由此記錄所述檢測信號(I)與m/z和輻射波長(λ)的二維相關(guān)性;及由所記錄的所述二維相關(guān)性測定所產(chǎn)生的所述離子中的至少一個的特性和/或不同的所產(chǎn)生的離子的相對豐度,并由此測定所述分子中的至少一個的特性和/或所述樣品中的不同分子的相對豐度。還提供用于進(jìn)行所述方法的設(shè)備。
聲明:
“針對使用質(zhì)譜法和光譜法的分子分析的方法和設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)