本發(fā)明公開了一種鑒別盤錦大米的光譜分析方法,將待測大米進(jìn)行粉碎預(yù)處理,利用傅里葉紅外光譜儀采集預(yù)處理樣品的光譜數(shù)據(jù),結(jié)合化學(xué)計(jì)量法,建立判別模型,達(dá)到鑒別大米產(chǎn)地的目的。與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有無前處理,無污染,無破壞性,可同時(shí)檢測多項(xiàng)性能指標(biāo),成本低,判別精密度高等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“鑒別盤錦大米的光譜分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)