本發(fā)明提供了一種質(zhì)譜分析方法和質(zhì)譜系統(tǒng),在實(shí)施該質(zhì)譜分析方法的過程中,子離子的強(qiáng)度數(shù)據(jù)、與第一物理化學(xué)特性關(guān)聯(lián)的子離子的第一參數(shù)、與第二物理化學(xué)特性關(guān)聯(lián)的子離子的第二參數(shù)均被記錄,從而形成譜圖數(shù)據(jù)集,在解卷積步驟中,根據(jù)包含第一參數(shù)和第二參數(shù)的二維特征,對(duì)譜圖數(shù)據(jù)集進(jìn)行解卷積,以將來自同一母離子的子離子歸類。通過以上方式,本發(fā)明提供的質(zhì)譜分析方法和質(zhì)譜系統(tǒng)能夠檢知部分與其他離子的譜峰嚴(yán)重重疊的離子,從而,提高針對(duì)數(shù)據(jù)非依賴性采集數(shù)據(jù)解析的定性和定量能力。
聲明:
“質(zhì)譜分析方法和質(zhì)譜系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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